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    DSA8300/DSA8200采樣示波器: 10G/25G/40G/100G的測試方案

    發布時間:2023-08-22      點擊次數:63

    Tektronix DSA8300/DSA8200采樣示波器基礎及應用


    • 帶寬高達80GHz以上 進行高速的周期脈沖測試 進行高速的串行數據分析 

    • 噪聲低、高垂直分辨率(14bit) 進行高速的眼圖測試以及噪聲分析。 

    • 超低的觸發抖動(使用82A04的模塊使觸發抖動減少至200fs) 進行高速的串行數據抖動分析


    使用Tektronix DSA8300/DSA8200能完成什么測試


    •  S參數測量:DSA8300/DSA8200可以對當前和各種新興標準的1 Gb/s到12.5 Gb/s串行數據率,實現準確且可重復的S參數測量,包括插入損耗、回波損耗、群延遲、相位和幅度不平衡等。


    •  眼圖和眼圖輪廓:DSA8300/DSA8200可以利用80Cxx系列模塊的低噪聲和高分辨率,以及80SJNB軟件的先進算法,對高速信號進行眼圖和眼圖輪廓的獲取和分析,從而分離出抖動和噪聲的各個成分,并計算誤碼率和三維眼圖輪廓。


    •  時鐘恢復:DSA8300/DSA8200可以使用80A05電氣時鐘恢復模塊或82A04相位參考模塊,對電氣或光學信號進行時鐘恢復,并提供內部觸發信號。這些模塊可以支持觸發模式和自由運行模式,以及擴頻時鐘(SSC)操作。


    •  TDR/TDT測量:DSA8300/DSA8200可以使用80E09或80E07雙通道TDR/TDT模塊,對電氣信號進行反射或透射的時域測量,從而檢測信號路徑中的阻抗不匹配、串擾、傳輸線長度等參數。


    光接口物理層測試:對CRU的要求

    光接口物理層測試:噪聲/靈敏度要求


    在測試小功率光模塊或者超長波長光模塊時,DUT的光功率會很小。所 以模塊的噪聲必須很低靈敏度很高,達到一定的信噪比,測試的結果才 能準確,而顯示出來的信號噪聲是真正屬于信號的,而不是模塊自身的 噪聲

    光接口物理層測試:對濾波器的要求


    測試眼圖模板時, 需要使用Optical Reference Receiver 光參考接收器 (O/E + Filter), 信號首先經光電轉換, 然后經4th Order Bessel-Thomson  濾波器過濾, 按業界規范要求, 此濾波器的帶寬要是被測信號速率的 0.75倍。

    光接口物理層測試:對波長的要求


    • 目前,按照光信號在光纖中的傳播方式有單模與多模之分;其波 長也不一樣。主流的波長有780、850、1310、1550nm 

    • 單模:9um光纖直徑,波長多為1310、1550nm 

    • 多模:62.5um光纖直徑,波長多為780、850nm


    泰克10G/25G/40G/100G的測試方案----模塊概覽


    155 Mb/s to 12+ Gb/s Optical Test 



    10/40/100GbE Optical Compliance testing in ONE  Instrument


    Tektronix DSA8200/DSA8300  Opt. JNB  + 80C08C-CR4  + 80C10B-F1 + 82A04 & 80A06



    The only ALL-IN-ONE single instrument solution with: 

    • All reference receiver Filters from 8.5Gb/s thru 44.5Gb/s 

    • Highest repeatability & best sensitivity 

    • Integrated Clock Recovery @ 10G 

    • SMF and MMF support @ 10G 

    • 200 fs RMS timebase stability 

    • 4x fast acquisition throughput over alternative 

    • Jitter, Noise, and BER Analysis • Calibrated Extinction-Ratio measurements @ 10G 

    • Differential electrical 50 GHz optional (no module swap needed)


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